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集成电路测试仪
集成电路测试仪概述

集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备。集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路测试仪按集成电路分类:数字集成电路测试仪和模拟集成电路测试仪;集成电路测试仪按功能分类:集成电路功能测试仪和集成电路参数测试仪;集成电路测试仪按形式分类:便携式集成电路测试仪和台式集成电路测试仪。集成电路测试仪功能:1.测试模拟集成电路、数字集成电路以及数模混合集成电路。2.测试IC器件的直流、交流及动态参数。3.可提供多达64管脚的模拟IC测试和32管脚的数字IC测试能力。大规模IC测试系统主要依靠进口解决国内的科研、生产与应用测试。

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inTEST

inTEST

  • 品牌: 美国inTEST
  • 型号: CobalTM系列
  • 产地:美国
  • 产品简介CobalTM系列机械手臂 (Test head manipulator) ● 适用于支撑和固定半导体测试系统的机械手臂                    测试信号传输模块 (Test interfaces) ● 适用于所有半导体测试系统的晶圆测试信号传输模块    Centuar 测试信号传输模块 Centuar SOC440多通道测试连接装置J750测试信号传输模块测试整合工具(Docking hardware) ● 连杆式Hard docking组合   inTEST主要产品 在集成电路测试领域,通过使用inTEST的支撑手臂(manipulator)和测试整合工具(docking hardware)能有效提高ATE(测试系统)的利用率以及使用灵活性,并长期保持系统整合的稳定性,有效提高测试结果的精确性和完整性, 从而减少测试系统的维护成本,同时保护其他易损的测试组件。作为集成电路测试信号传输技术的领导者,inTEST提供超高保真的测试信号传输路径,灵活的模块化设计,帮助实现可靠的测试,从而降低测试成本。     

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HILEVEL

HILEVEL

  • 品牌: 美国HILEVEL
  • 型号: Griffin 系列
  • 产地:美国
  • 产品简介HILEVEL主要产品(Hi-Level专利)HILEVEL Dragon测试系统 - 40Mhz测试频率,最多配置256测试通道, 4Meg测试向量深度。 1Meg 运行分析向量深度/每通道。HILEVEL Griffin 系列-测试频率从50Mhz到100Mhz,可根据客户应用以及预算要求灵活选择。 最多配置512测试通道,4Meg测试向量深度。 1Meg运行分析向量深度/每通道。HILEVEL TITAN 测试系统 -测试频率100Mhz,最多配置1024测试通道。 4Meg 测试向量深度。 1Meg运行分析向量深度/每通道。HILEVEL CurveMasterTM IV-测试系统 -在联接跟踪系统来了新的技术和部件。 具备高至2,048针并在所有新的高精度DC参数上,CurveMasterTM低成本设备,成为用家最喜爱的实验室仪器!HILEVEL产品特性基于C++的填表式测试程序编辑,同时具备高阶C语言编程,简单易学,非常容易上手。强大的在线培训软件,图形化的指示,可以随时指导测试程序编辑。强大的工程验证工具。系统结构简单,非常容易维护。由测试板卡和测试头组成,根据需求灵活配置通道板。通过USB线,测试头可以和任意装有HiLevel测试软件的电脑连接使用,非常利于工程验证。系统无需校准(NIST)。

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